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產(chǎn)品概述
反射膜厚測(cè)量?jī)x是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。它能測(cè)低至20納米的超薄薄膜，測(cè)量誤差小于1納米，每秒可測(cè)100次，重復(fù)測(cè)量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強(qiáng)，在振動(dòng)或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。
反射膜厚測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)
| 型號(hào) | HD-FT50UV | HD-FT50NIR |
| 建議工作距離 | 非聚焦光束，安裝距離5至10mm | 安裝側(cè)面出光附加鏡時(shí)：34.5mm±2mm； 軸向出光時(shí)：55mm±2mm； |
| 測(cè)量角度 | ±10° | ±5° |
| 光斑類型 | 彌散光斑；在10mm安裝距離時(shí)，光斑直徑約為4mm； | 聚焦光斑；約200μm |
| 探頭外徑*長(zhǎng)度 | Φ6.35*3200mm3 | Φ20*73mm |
| 探頭重量 | 190g | 108g（探頭）、49g（附加鏡） |
| 光源類型 | 氘鹵光源 | 鹵素光源 |
| 波長(zhǎng)范圍 | 190-1100nm | 400-1100nm；1000-1700nm |
| 測(cè)厚范圍 | 約20nm~50μm（折射率1.5時(shí)） | 約50nm~50μm（折射率1.5時(shí)） |
| 適配探頭 | UV-VIS | VIS-NIR軸向； VIS-NIR徑向；（標(biāo)配其一） |
| 可連探頭數(shù)量 | 1 | |
| 探頭防護(hù)等級(jí) | IP40 | |
| 重復(fù)精度 | 0.05nm | |
| 準(zhǔn)確度 | <±1nm或±0.3%（取較大值） | |
| 采樣頻率 | Max.100Hz（視求解參數(shù)復(fù)雜度而定） | |
| 測(cè)控軟件 | 專用上位機(jī)軟件 | |
| 電源電壓 | 220V±20V50HzAC/ | |
| 最大功率 | 50W | |
| 工作溫度 | -10至+40℃ | |
| 相對(duì)濕度 | 20%至85%RH（無(wú)冷凝） | |
| 控制器重量 | 約5000g | |
產(chǎn)品目錄
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